单质检测
检测项目
1.纯度测定:采用光谱法测定元素含量(≥99.9%),分辨率≤0.001%2.密度测试:阿基米德法测量(精度0.001g/cm)3.熔点分析:热台显微镜测定(控温精度0.5℃)4.晶型结构:XRD分析(角度范围5-90,步长0.02)5.表面形貌:SEM观测(分辨率3nm@30kV)
检测范围
1.金属单质:高纯铝(Al≥99.999%)、电解铜(Cu≥99.95%)2.非金属单质:晶体硅(Si≥99.9999%)、石墨碳(C≥99.9%)3.半导体材料:锗锭(Ge≥99.999%)、砷化镓晶圆4.高纯化学品:硫磺(S≥99.99%)、碘片(I₂≥99.95%)5.贵金属制品:金丝(Au≥99.99%)、铂坩埚(Pt≥99.95%)
检测方法
1.ASTME1446-2021火花源原子发射光谱法测定金属纯度2.ISO11885:2007ICP-OES法多元素同步分析3.GB/T223.3-2023钢铁及合金化学分析方法总则4.GB/T15072.4-2023贵金属合金化学分析规程5.ISO4499-2:2020硬质合金显微组织金相检验
检测设备
1.ThermoScientificARLQUANT'XXRF光谱仪(元素范围Be-U)2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES(检出限0.1ppb)3.NetzschSTA449F5同步热分析仪(温度范围-150℃-2000℃)4.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪(Cu靶Kα辐射)5.HitachiSU5000场发射SEM(加速电压0.5-30kV)6.MettlerToledoXP205电子天平(精度0.01mg)7.Agilent7900ICP-MS(质量数范围2-260amu)8.LeicaDM2700M金相显微镜(500光学放大)9.LecoONH836氧氮氢分析仪(O/N检测限0.1ppm)10.MalvernMastersizer3000激光粒度仪(量程0.01-3500μm)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。